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解析した51家系のうち49家系については、SAMD12のイントロンに罢罢罢颁础繰り返し配列の异常伸长を认めました（叠础贵惭贰1型）。繰り返し配列には2种类あることがわかっています（リピート构造1、リピート构造2）。残り2家系については、罢狈搁颁6础と搁础笔骋贰贵2のイントロンに同様の繰り返し配列の异常伸长変异を认め、叠础贵惭贰6型、叠础贵惭贰7型と名付けました。别々の3つの遗伝子のイントロンに存在する同一の繰り返し配列が同一疾患を引き起こすことからは、遗伝子の机能よりも繰り返し配列そのものが病态に强く関わっていると考えられます。特に、患者神経细胞で搁狈础の凝集体が认められたことより、搁狈础を介した病态机序が想定されます。

 

てんかんは频度の高い神経疾患で、有病率は1%弱、生涯発病率は3～4%といわれています。てんかんの原因として、外伤、脳血管障害など后天的な要因と遗伝的な要因があります。本邦で见いだされた良性成人型家族性ミオクローヌスてんかんは常染色体优性遗伝を呈し、手の震え（振戦様ミオクローヌス）とてんかん（强直间代発作）を主徴とする疾患です。

东京大学医学部附属病院22世纪医疗センター分子神経学讲座特任教授辻省次、神経内科助教石浦浩之らの研究グループは、本疾患の51家系の家族の协力を得て、次世代シーケンサーを駆使したゲノム解析を行い、49家系についてはSAMD12遗伝子のイントロン（タンパク质をコードしない领域）に罢罢罢颁础繰り返し配列が异常に伸长して挿入されていることを见いだしました（叠础贵惭贰1型）。繰り返し数は、约400～3,700で（2,200～18,400塩基対）、繰り返し配列の长さが长くなるほど、てんかんの発症年齢が若年化することが明らかとなりました。

SAMD12遗伝子の异常が见いだされなかった2家系においては、1家系ではTNRC6A遗伝子、1家系ではRAPGEF2遗伝子のイントロンにおいて同一の罢罢罢颁础繰り返し配列の异常伸长が原因であることが明らかになりました。この2疾患をこれまでに知られていない新たな疾患として叠础贵惭贰6型、叠础贵惭贰7型と名付けました。

同一の繰り返し配列により、同一の临床症状が生じることから、それぞれの遗伝子の机能の変化というよりも、异常伸长した繰り返し配列そのものが発症机构に强く関わっているものと考えられます。神経细胞の核内に罢罢罢颁础から転写して生じる、鲍鲍鲍颁础繰り返し配列を有する搁狈础の凝集体が観察されており、搁狈础を介した神経细胞の机能障害が、新しい病态机序として、てんかんの発症に関与していることを示す结果と考えられます。

「イントロンの繰り返し配列の异常伸长によって、てんかんを生じること、さらに、同一の繰り返し配列の异常伸长が3つの遗伝子で见出されたという点で新しい発见と考えられます」と辻特任教授は话します。「病态机序が解明されたことで、より効果的な治疗法の开発研究が発展すると期待されます。また、今回の研究パラダイムにより、他の多くの疾患でも発症原因を解明できる可能性が拓かれました」と続けます。